電阻法大尺寸SiC晶體生長(zhǎng)設(shè)備
UK-T6
UK-T8
6吋電阻法碳化矽晶體生長(zhǎng)設(shè)備UK-T6
1、完美解決了感應(yīng)爐徑向溫度梯度大的技術(shù)難點(diǎn)，可實(shí)現(xiàn)徑向溫度梯度小和軸向溫度梯度可控，晶體內(nèi)部缺陷少， 良率高、重複性好；2、與傳統(tǒng)工藝長(zhǎng)達(dá)7-14天的晶體生長(zhǎng)周期相比，UKING ERH SiC RV4.0設(shè)備晶體生長(zhǎng)速度更快，整個(gè)過程可控製在7天之內(nèi)；3、 自動(dòng)化程度高，操控簡(jiǎn)單，有利於批量生產(chǎn)，提高晶體生長(zhǎng)效率和穩(wěn)定性。
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8吋電阻法碳化矽晶體生長(zhǎng)設(shè)備UK-T8
1、完美解決了感應(yīng)爐徑向溫度梯度大的技術(shù)難點(diǎn)，可實(shí)現(xiàn)徑向溫度梯度小和軸向溫度梯度可控，晶體內(nèi)部缺陷少， 良率高、重複性好；2、與傳統(tǒng)工藝長(zhǎng)達(dá)7-14天的晶體生長(zhǎng)周期相比，UKING ERH SiC RV1.0設(shè)備晶體生長(zhǎng)速度更快，整個(gè)過程可控製在7天之內(nèi)；3、 自動(dòng)化程度高，操控簡(jiǎn)單，有利於批量生產(chǎn)，提高晶體生長(zhǎng)效率和穩(wěn)定性。
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溫度梯度控製優(yōu)勢(shì)
AG庄闲科技憑借多年的工藝技術(shù)經(jīng)驗(yàn)，精準(zhǔn)控製熱場(chǎng)溫度，確保晶體在生長(zhǎng)過程中獲得最佳溫度梯度，提高了晶體的生長(zhǎng)效率，還顯著降低了生產(chǎn)成本。 -
籽晶粘接優(yōu)勢(shì)
公司獨(dú)特的籽晶處理技術(shù)，減少了籽晶裝配過程中人為因素對(duì)粘接的影響，提高粘接的成功率，解決了晶體生長(zhǎng)過程中籽晶燒穿等問題。 -
綜合成本優(yōu)勢(shì)
公司研發(fā)的電阻法碳化矽晶體生長(zhǎng)設(shè)備配合晶體生長(zhǎng)工藝，在確保品質(zhì)的前提下，原材料利用率高，提升晶體厚度。
AG庄闲的解決方案
UKING SOLUTIONS
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發(fā)熱部件
石墨加熱器
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熱場(chǎng)結(jié)構(gòu)
PVT石墨熱場(chǎng)
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溫度梯度
容易調(diào)節(jié)
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晶體(ti) 生長(zhǎng)界麵
接近平麵
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晶體(ti) 利用率
高
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晶體(ti) 應(yīng)力
應(yīng)力較低
易加工
提高下遊製程良率 -
6-8寸晶體(ti) 生長(zhǎng)
兼容
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單位晶片成本
低
電阻法大尺寸SiC晶體生長(zhǎng)設(shè)備產(chǎn)品
6吋碳化矽晶體
8吋碳化矽晶體
6吋碳化矽晶體
碳化矽作為全球先進(jìn)的第三代半導(dǎo)體材料，具有高熱導(dǎo)率、高擊穿電場(chǎng)強(qiáng)、高飽和電子漂移速度和高鍵合能等特性，碳化矽功率器件在耐高壓、高頻、高溫以及大功率應(yīng)用中具有顯著優(yōu)勢(shì)。
8吋碳化矽晶體
碳化矽作為全球先進(jìn)的第三代半導(dǎo)體材料，具有高熱導(dǎo)率、高擊穿電場(chǎng)強(qiáng)、高飽和電子漂移速度和高鍵合能等特性，碳化矽功率器件在耐高壓、高頻、高溫以及大功率應(yīng)用中具有顯著優(yōu)勢(shì)。
碳化矽晶體生長(zhǎng)過程
碳化矽晶體材料是種由碳和矽元素組成的寬禁帶化合物半導(dǎo)體材料，其生產(chǎn)條件需要在2250°C以上的高溫和接近真空的低壓環(huán)境下，使固態(tài)原料升華，並在高溫和濃度梯度的作用下，持續(xù)將碳、矽原子傳輸至位於石墨坩堝頂端的籽晶附近，進(jìn)行晶體生長(zhǎng)。
1.
碳化矽顆粒
Si+C=SiC
在晶體(ti) 生長(zhǎng)過程中，碳化矽（SiC）原料的粒度和純度都會(huì)(hui) 直接影響晶體(ti) 質(zhì)量。
2.
籽晶處理
獨(dú)特的籽晶粘接技術(shù)
籽晶粘接是晶體(ti) 生長(zhǎng)過程中的關(guān)(guan) 鍵環(huán)節(jié)之一。為(wei) 了獲得高品質(zhì)的晶體(ti) ，公司采用獨(dú)特籽晶處理工藝，滿足高質(zhì)量晶體(ti) 生長(zhǎng)要求。
3.
Uking電阻法
SiC晶體(ti) 生長(zhǎng)技術(shù)
在晶體(ti) 生長(zhǎng)過程中，通過精準(zhǔn)控製熱場(chǎng)溫度和氣氛來保證晶體(ti) 生長(zhǎng)的可靠性和穩(wěn)定性。
碳化矽晶體檢測(cè)報(bào)告
采用UKING電阻法碳化矽晶體生長(zhǎng)設(shè)備生長(zhǎng)的SiC晶體，其微管密度、位錯(cuò)密度和電阻率等指標(biāo)均達(dá)到行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。
新能源汽車
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風(fēng)力發(fā)電
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